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標(biāo)題：aoi視覺檢測設(shè)備各種光源的特點(diǎn)

aoi視覺檢測設(shè)備成為當(dāng)前熱門的一個產(chǎn)業(yè)趨勢,它主要用光源、鏡頭及CCD等成像器件匹配后端的計算機(jī)采集及圖像處理系統(tǒng)來進(jìn)行一些產(chǎn)品的檢查識別等此技術(shù)可大大減輕人工日檢產(chǎn)品質(zhì)量的負(fù)擔(dān)有效地提高檢測效率并反饋到生產(chǎn)中指導(dǎo)生產(chǎn)。

　　在aoi視覺檢測設(shè)備中前端的光路設(shè)計是一個非常重要的部分如何合理地進(jìn)行成像光路設(shè)計以及照明光源設(shè)計等,不但直接影響著圖像的成像質(zhì)量、邊緣提取、后端圖像采集處理的質(zhì)量還會大大影響到aoi視覺檢測設(shè)備成本的高低。一般來說,在aoi視覺檢測設(shè)備中,要有一個與計算機(jī)后端采集處理相關(guān)聯(lián)的成像和照明光路還有一套與之匹配進(jìn)行缺陷定位用于人工觀察檢修的成像和照明光路。

　　下面由精質(zhì)跟大家分享aoi視覺檢測設(shè)備各種光源的特點(diǎn)!

　　1、垂直照明

　　在垂直照明照射下形成了亮度范圍主要包含高亮度范圍和低亮度范圍。高亮度范圍平行于電路板的部分亮度z高。主要是元器件的電IC元器件的導(dǎo)線側(cè)翼、IC元器件的導(dǎo)線端、焊盤、電路板。低亮度范圍和電路板不在同一個平行線上的部分因鏡面反射特性顯得暗。主要是焊點(diǎn),傾斜角度大的IC導(dǎo)線的折曲部分。

　　因此根據(jù)亮度范圍的不同垂直照明下獲得的圖像主要在檢測電呈兩面成對形態(tài)的普通芯片或IC元器件的導(dǎo)線端時使用。


　　2、水平照明

　　1.高亮度范圍與電路板形成一定角度的部分亮度比較高。主要是焊點(diǎn)、傾斜角度大的IC導(dǎo)線的折曲部分。

　　2.低亮度范圍：和電路板平行的部分因為鏡面反射特性,光線比較暗。主要是元器件的電、IC元器件的 Shoul導(dǎo)線側(cè)翼IC元器件的導(dǎo)線端、焊盤、電路板根據(jù)亮度范圍的不同水平照明下獲得的圖像主要在芯片類或在IC的導(dǎo)線中檢查冷焊、漏焊。或在QFP、SOIC檢查橋接使用。

　　3、水平-垂直照明

　　絲網(wǎng)印刷的文字或標(biāo)志或塑料制成的元器件件身等因他們的反射特性,不論是水平或垂直照明都呈現(xiàn)相似的亮度。因此,從水平照明中減去垂直照明時其值接進(jìn)零亮度很低。在水平照明時,主要檢查芯片或IC導(dǎo)線部位的冷焊、漏焊等,或檢查QFP、SOIC的橋接。因白色絲印標(biāo)志和文字或因元器件件身等高亮度部位而水平檢測不夠理想時,可以應(yīng)用&ldquo水平-垂直&rdquo。

　　4、垂直+水平照明

　　它是在垂直照明中獲得的圖像和在水平照明中獲得的圖像加起來的圖像,各部位像素的亮度值等于垂直圖像的亮度值和水平圖像的亮度值的算術(shù)總和。這種圖像整體上亮度較高而且平滑、明亮。

　　因表面不平滑而在垂直或水平照明中只有局部較亮的時候可以使用這種方式。芯阻抗、排列阻抗的電部位在垂直照明中有局部比較暗但是采用這種整合圖像方式后可以獲得清晰的電部位圖像它主要用于尋找電位置。